''3., Két merevlemez RAID-be kötésével duplázódik a meghibásodási esély. Ami 0,01% 3 éven belül.''

Én azt szeretném kérdezni, hogy ezt a meghibásodási statisztika honnan származik?

Ugyanis olvastam a Seagate egyik prezentációját erről, és az kicsit(?) más adatokat tartalmazott.

Előljáróban azt tenném egyértelművé, hogy az ATA felületű desktop vinyók gyári eredetű hibáiról szólt.
A Seagate statisztikája szerint az üzembehelyezés utáni első 6 hónapban 1000 vinyóból 5-7db hibásodik meg, majd az újabb 6 hónap alatt további 2-3. Így jön ki az az adat, amelynek előzetes becsült értéke a vinyók adatlapján ''Annualized Return Rate'' alatt szokott szerepelni. (Az értéke 0,7-1% -amit eddig láttam-, és vinyóknál ez a mutató csak az üzembehelyezést követő 1 évre vonatkozik).

1 év alatt a gyári hibák java előjön, és a következő években visszaesik a hibák száma 1-2db / 1000db /év értékre, és ez így megy a vinyó tervezett élettartamáig (Component Design Life az adatlapokon). Ezt követően a vinyó már nem megbízható, így nem célszerű tovább használni.

A fentiek alapján a legoptimálisabb esetet figyelembe véve is 3 évre egy vinyónak 0,3-0,6% a meghibásodási esélye. (És ezt csak tovább ronthatják az adat-, és egyéb hibák.)





[Szerkesztve]

Sokkal kellemesebb úgy hibát keresni, ha tudod, hogy másban kell!